بلورشناسی پرتو ایکس
پراش (تفرق) اشعه ایکس روشی برای مطالعهٔ ساختار مواد بلوری است که در سال ۱۹۱۲ میلادی توسط فون لاوه کشف شد و توسط ویلیام هنری براگ و ویلیام لورنس براگ برای بررسی بلورها بکار گرفته شد.
اشعه‌های ایکسی که برای پراش استفاده می‌شوند، معمولاً طول موجی در حدود ۰٫۵ الی ۲٫۵ آنگستروم دارند.
این روش بر پایهٔ خاصیت موجی اشعه ایکس استوار است. هستهٔ اتم‌ها در یک شبکهٔ کریستالی به فاصلهٔ کمی (در حدود چند آنگستروم) از یکدیگر قرار گرفته‌اند. بازتاب اشعهٔ ایکس از این صفحات متوالی منجر به تداخل سازنده یا ویرانگر امواج ایکس می‌شود. در صورتی که امواج تداخل سازنده داشته باشند، با استفاده از فرمول براگ می‌توان فاصلهٔ صفحات کریستالی و در نتیجه اندازه و نوع سلول واحد را بدست آورد.
روش‌های متداول[ویرایش]
- روش لاوه (لائو)
- روش پودری
- روش دبای-شرر
- روش تفرق سنجی (دیفرکتیومتری)
nλ=2dsinθ
که در این فرمول d فاصلهٔ بین صفحات کریستالی، θ زاویهٔ برخورد پرتو تابشی به صفحهٔ اتمی، λ طول موج اشعه ایکس تابشی و n یک عدد صحیح است که معمولاً ۱ در نظر گرفته می‌شود
جستارهای وابسته[ویرایش]
 |
در ویکی‌انبار پرونده‌هایی دربارهٔ بلورشناسی پرتو ایکس موجود است. |
منابع[ویرایش]
ویکی‌پدیا انگلیسی- x-ray scattering- بازیابی 24 اوت 2011
 |
این یک مقالهٔ خرد پیرامون فیزیک است. با گسترش آن به ویکی‌پدیا کمک کنید. |
 |
این یک مقالهٔ خرد پیرامون مهندسی مواد است. با گسترش آن به ویکی‌پدیا کمک کنید. |
