طیف‌سنجی جرمی پلاسمای جفت‌شده القایی: تفاوت میان نسخه‌ها
(با کمک آن را اثبات کن) |
جز ربات:مرتب‌سازی عنوان‌ها+مرتب+تمیز+ |
||
| خط ۱۳: | خط ۱۳: | ||
== روش == |
== روش == |
||
در ICP-MS منبع تولید [[یون]]، پلاسمای [[آرگون]] با دماهای بالا تا ۸۰۰۰ کلوین است. نخست، [[پلاسما]] در کوره یا مشعلی از جنس [[کوارتز]] تشکیل و سپس نمونه به داخل پلاسما [[مهپاشی]] می‌شود و در نتیجه بر اثر دمای بالای پلاسما، [[تبخیر]]، [[اتم|اتمیده]] و [[یونیده‌شدن|یونیده]] می‌گردد. |
در ICP-MS منبع تولید [[یون]]، پلاسمای [[آرگون]] با دماهای بالا تا ۸۰۰۰ کلوین است. نخست، [[پلاسما]] در کوره یا مشعلی از جنس [[کوارتز]] تشکیل و سپس نمونه به داخل پلاسما [[مهپاشی]] می‌شود و در نتیجه بر اثر دمای بالای پلاسما، [[تبخیر]]، [[اتم|اتمیده]] و [[یونیده‌شدن|یونیده]] می‌گردد. |
||
نمونه از طریق یک مهپاش به محیط پلاسما منتقل می‌شود و یون تولید می‌گردد. گاهی نیز برای یونیده کردن از [[لیزر]] بهره |
نمونه از طریق یک مهپاش به محیط پلاسما منتقل می‌شود و یون تولید می‌گردد. گاهی نیز برای یونیده کردن از [[لیزر]] بهره برده می‌شود. جریان الکتریکی، گاز آرگون را یونیده می‌کند و پلاسما تولید می‌شود. بعد از ورود نمونه دمای بالای پلاسما سبب ایجاد اتم در محیط و در نهایت تولید یون فلزی می‌شود:{{چپ‌چین}}(-M → M+ + e){{پایان چپ‌چین}} |
||
با جداسازی یون‌های مثبت مربوط به نمونه از ذرات خنثی یا جامد، نسبت جرم به بار (m/z) [[جداسازی]] و توسط [[آشکارساز]] فوتون‌افزای ثانویه شناسایی می‌شوند.<ref name="nano">{{یادکرد وب | نشانی=http://edu.nano.ir/oldversion/index.php?actn=papers_view&id=145&action2=print | عنوان=روش های شناسایی نانوساختارها: روش های طیف سنجی | ناشر=سیستم جامع آموزش فناوری نانو | بازبینی=29 September 2016 | نویسنده=فاطمه اسفندیاری بیات ، محسن سروری}}</ref> |
با جداسازی یون‌های مثبت مربوط به نمونه از ذرات خنثی یا جامد، نسبت جرم به بار (m/z) [[جداسازی]] و توسط [[آشکارساز]] فوتون‌افزای ثانویه شناسایی می‌شوند.<ref name="nano">{{یادکرد وب | نشانی=http://edu.nano.ir/oldversion/index.php?actn=papers_view&id=145&action2=print | عنوان=روش های شناسایی نانوساختارها: روش های طیف سنجی | ناشر=سیستم جامع آموزش فناوری نانو | بازبینی=29 September 2016 | نویسنده=فاطمه اسفندیاری بیات ، محسن سروری}}</ref> |
||
| خط ۲۶: | خط ۲۶: | ||
{{شیمی تجزیه-خرد}} |
{{شیمی تجزیه-خرد}} |
||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
[[رده:تجهیزات آزمایشگاهی]] |
[[رده:تجهیزات آزمایشگاهی]] |
||
[[رده:شیمی تجزیه]] |
[[رده:شیمی تجزیه]] |
||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
نسخهٔ ۲۸ سپتامبر ۲۰۱۶، ساعت ۱۲:۱۳
 دستگاه طیف‌بین جرمی پلاسمای جفت‌شده القایی | |
| کوتاه شده | ICP-MS |
|---|---|
| طبقه بندی | طیف‌سنجی جرمی |
طیف‌بینی جرمی پلاسمای جفت‌شده القایی (انگلیسی: Inductively coupled plasma mass spectrometry) (اختصاری|ICP-MS) نوعی طیف‌سنجی جرمی است که برای ارزیابی و شناسایی فلزها و برخی نافلزها تا غلظت‌هایی به اندکی بخش در ۱۰۱۵ (ppq) کارایی دارد. این تکنیک در مقایسه با طیف‌بینی جذب اتمی، دارای دقت، حساسیت و سرعت بیشتری است.
روش
در ICP-MS منبع تولید یون، پلاسمای آرگون با دماهای بالا تا ۸۰۰۰ کلوین است. نخست، پلاسما در کوره یا مشعلی از جنس کوارتز تشکیل و سپس نمونه به داخل پلاسما مهپاشی می‌شود و در نتیجه بر اثر دمای بالای پلاسما، تبخیر، اتمیده و یونیده می‌گردد.
نمونه از طریق یک مهپاش به محیط پلاسما منتقل می‌شود و یون تولید می‌گردد. گاهی نیز برای یونیده کردن از لیزر بهره برده می‌شود. جریان الکتریکی، گاز آرگون را یونیده می‌کند و پلاسما تولید می‌شود. بعد از ورود نمونه دمای بالای پلاسما سبب ایجاد اتم در محیط و در نهایت تولید یون فلزی می‌شود:
با جداسازی یون‌های مثبت مربوط به نمونه از ذرات خنثی یا جامد، نسبت جرم به بار (m/z) جداسازی و توسط آشکارساز فوتون‌افزای ثانویه شناسایی می‌شوند.[۱]
منابع
- ↑ فاطمه اسفندیاری بیات ، محسن سروری. «روش های شناسایی نانوساختارها: روش های طیف سنجی». سیستم جامع آموزش فناوری نانو. دریافت‌شده در ۲۹ سپتامبر ۲۰۱۶.
- مشارکت‌کنندگان ویکی‌پدیا. «Inductively coupled plasma mass spectrometry». در دانشنامهٔ ویکی‌پدیای انگلیسی، بازبینی‌شده در ۲۵ سپتامبر ۲۰۱۶.
پیوند به بیرون
 |
در ویکیانبار پروندههایی دربارهٔ طیف‌سنجی جرمی پلاسمای جفت‌شده القایی موجود است. |
 | این یک مقالهٔ خرد شیمی تجزیه است. می‌توانید با گسترش آن به ویکی‌پدیا کمک کنید. |