میکروسکوپ پراب پویشی

از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد
پرش به: ناوبری، جستجو

میکروسکوپ‌های پراب پویشی از یک پراب که بر روی نمونه حرکت می‌کند، برای بررسی سطح نمونه‌ها استفاده می‌کنند. با استفاده از این میکروسکوپ‌ها علاوه بر توپوگرافی سطح، می‌توان راجع به اصطکاک، مغناطش، خواص حرارتی و الاستیسیته‌ی سطح نیز اطلاعاتی بدست آورد که با استفاده از روش‌های دیگر قابل دستیابی نیستند.

طبقه‌بندی[ویرایش]

علاوه بر تکنیک‌های ذکر شده در بالا، تکنیک‌های متعدد دیگری نیز بر پایهٔ میکروسکوپ‌های پراب پویشی به وجود آمده‌اند که کاربردهای کمتری داشته و برای مقاصد خاص مناسب هستند. از جمله:

شرایط کارکرد[ویرایش]

معمولاً میکروسکوپ‌های پراب پویشی به آماده‌سازی نمونه و یا خلاء بسیار بالا که برای میکروسکوپ‌های الکترونی لازم است، نیازی ندارند.

کاربرد[ویرایش]

در علوم زیستی[ویرایش]

چون خلاء بسیار بالا و پرتوهای الکترونی به نمونه‌های زنده آسیب می‌رساند، در علوم زیستی بیشتر از میکروسکوپ‌های پراب پویشی استفاده می‌شود. علاوه بر این به علت قابلیت مطالعهٔ نمونه‌ها در محلول آبی، امکان بررسی را در شرایط شبه-بیولوژیکی فراهم می‌کند.

در علم مواد[ویرایش]

میکروسکوپ‌های نیروی پویشی را می‌توان برای تصویر برداری از اکثر مواد بکار برد. این تکنیک‌ها برای تعیین خصوصیات سطحی مانند تخلخل، اندازه دانه، مرز دانه، ترک‌ها، عیوب بلوری و ... بکار می‌رود.

جستارهای وابسته[ویرایش]

منابع[ویرایش]

  • R. Wisendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy: Methods and applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994.

منابعی برای مطالعه بیشتر[ویرایش]

  • Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (Eds.), Applied Scanning Probe Methods 7 vols., Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007.