میکروسکوپ پراب پویشی
میکروسکوپهای پراب پویشی از یک پراب که بر روی نمونه حرکت میکند، برای بررسی سطح نمونهها استفاده میکنند. با استفاده از این میکروسکوپها علاوه بر توپوگرافی سطح، میتوان راجع به اصطکاک، مغناطش، خواص حرارتی و الاستیسیتهی سطح نیز اطلاعاتی بدست آورد که با استفاده از روشهای دیگر قابل دستیابی نیستند.
محتویات |
طبقهبندی [ویرایش]
- میکروسکوپ تونلی پویشی
- میکروسکوپ نیروی اتمی
- میکروسکوپ نیروی مغناطیسی
- میکروسکوپ نیروی جانبی (میکروسکوپ نیروی اصطکاکی)
علاوه بر تکنیکهای ذکر شده در بالا، تکنیکهای متعدد دیگری نیز بر پایهٔ میکروسکوپهای پراب پویشی به وجود آمدهاند که کاربردهای کمتری داشته و برای مقاصد خاص مناسب هستند. از جمله:
- میکروسکوپ مدولاسیون نیرو
- میکروسکوپ آشکارساز فازی
- میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک
- میکروسکوپ کاپاسیتانس پویشی
شرایط کارکرد [ویرایش]
معمولاً میکروسکوپهای پراب پویشی به آمادهسازی نمونه و یا خلاء بسیار بالا که برای میکروسکوپهای الکترونی لازم است، نیازی ندارند.
کاربرد [ویرایش]
در علوم زیستی [ویرایش]
چون خلاء بسیار بالا و پرتوهای الکترونی به نمونههای زنده آسیب میرساند، در علوم زیستی بیشتر از میکروسکوپهای پراب پویشی استفاده میشود. علاوه بر این به علت قابلیت مطالعهٔ نمونهها در محلول آبی، امکان بررسی را در شرایط شبه-بیولوژیکی فراهم میکند.
در علم مواد [ویرایش]
میکروسکوپهای نیروی پویشی را میتوان برای تصویر برداری از اکثر مواد بکار برد. این تکنیکها برای تعیین خصوصیات سطحی مانند تخلخل، اندازه دانه، مرز دانه، ترکها، عیوب بلوری و ... بکار میرود.
جستارهای وابسته [ویرایش]
منابع [ویرایش]
- R. Wisendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy: Methods and applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994.
منابعی برای مطالعه بیشتر [ویرایش]
- Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (Eds.), Applied Scanning Probe Methods 7 vols., Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007.
 |
این یک نوشتار خُرد پیرامون مهندسی مواد است. با گسترش آن به ویکیپدیا کمک کنید. |
