میکروسکوپ تونلی روبشی
از ویکیپدیا، دانشنامهٔ آزاد
میکروسکوپ تونلی روبشی (به انگلیسی: STM:Scanning tunneling microscope) گونهای میکروسکوپ پراب روبشی است که براساس روبش سطح رسانا بهوسیلهٔ نوک بسیار باریک (در حد چند نانومتر ) و تغییر در میزان جریان عبوری برحسب فاصله کار میکند. با این میکروسکوپ میتوان نحوه آرایش اتمها در سطح شبکه را به تصویر کشید. به عبارت دیگر تصویر ایجاد شده نشان دهنده آرایش فضایی نوار رسانش فلز یا نیمه هادی است.
جریان در این گونه میکروسکوپ مستقیم (DC) است و جریان بصورت نمایی با فاصله نوک-نمونه رابطه دارد.
| در ویکیانبار پروندههایی دربارهٔ میکروسکوپ تونلی روبشی موجود است. |
جستارهای وابسته[ویرایش]
منابع[ویرایش]
- R. Wisendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy: Methods and applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994.
| این یک نوشتار خُرد پیرامون مهندسی مواد است. با گسترش آن به ویکیپدیا کمک کنید. |