تجزیه و تحلیل پرتو یونی: تفاوت میان نسخه‌ها

از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد
تفاوت جدیدتر ←
محتوای حذف‌شده محتوای افزوده‌شده
دیداریویکی‌متن
Tavakolian.zhr (بحث | مشارکت‌ها)
۲۵ ویرایش‌ها
ایجاد شده به‌واسطهٔ ترجمهٔ صفحهٔ «Ion beam analysis»
(بدون تفاوت)

نسخهٔ ‏۹ دسامبر ۲۰۲۲، ساعت ۱۰:۲۴

تجزیه و تحلیل پرتو یونی ("IBA") یک خانواده مهم از تکنیک‌های تحلیلی مدرن است که شامل استفاده از پرتوهای یونی MeV برای بررسی ترکیب و بدست آوردن پروفایل‌های عمق عنصر در لایه‌ی نزدیک به سطح جامدات است. تمام روش‌های IBA بسیار حساس هستند و امکان تشخیص عناصر در محدوده زیر تک لایه را می دهند. وضوح عمق معمولاً در محدوده چند نانومتر تا چند ده نانومتر است. تفکیک عمق اتمی قابل دستیابی است، اما به تجهیزات ویژه نیاز دارد. عمق تحلیل شده از چند ده نانومتر تا چند ده میکرومتر تغییر می کند. روش‌های IBA همیشه با دقت کمی چند درصد هستند. کانال‌یابی اجازه می‌دهد تا مشخصات عمق آسیب در تک کریستال‌ها تعیین شود.

  • RBS: پراکندگی رادرفورد به عناصر سنگین در یک ماتریس سبک حساس است
  • EBS: طیف سنجی پراکندگی الاستیک (غیر رادرفورد) می تواند حتی به عناصر سبک در یک ماتریس سنگین حساس باشد. اصطلاح EBS زمانی استفاده می‌شود که ذره فرودی آنقدر سریع می‌رود که از « سد کولن » هسته ی هدف فراتر می‌رود، که بنابراین نمی‌توان آن را با تقریب بار نقطه‌ای رادرفورد بیان کرد. در این مورد ، معادله شرودینگر باید حل شود تا سطح مقطع پراکندگی به دست بیاید (به http://www-nds.iaea.org/sigmacalc/ مراجعه کنید).
  • ERD: تشخیص پس زدگی الاستیک به عناصر سبک در یک ماتریس سنگین حساس است.
  • PIXE: انتشار اشعه ایکس ناشی از ذرات ترکیب عنصری جزیی می دهد
  • NRA: آنالیز واکنش هسته ای به ایزوتوپ های خاصی حساس است
  • کانال یابی : پرتو یونی سریع می تواند به طور دقیق با محورهای اصلی تک بلورها هم تراز شود؛ سپس رشته‌های اتم‌ها روی همدیگر «سایه» می‌اندازند و بازده پراکندگی به‌طور چشمگیری کاهش می‌یابد. هر اتمی که از محل های شبکه ی خود خارج شود، پراکندگی اضافی قابل مشاهده ای تولید می کند. بنابراین آسیب به کریستال قابل مشاهده است و عیوب نقطه ای ( بین‌نشینی ) حتی از نابجایی‌ها قابل تشخیص است.

ارزیابی عددی روش‌های IBA نیازمند استفاده از نرم افزارهای تخصصی شبیه سازی و تحلیل داده‌ها است. SIMNRA و DataFurnace برنامه‌های پرطرفداری برای تجزیه و تحلیل RBS، ERD و NRA هستند، در حالی که GUPIX برای تحلیل PIXE محبوب است. بررسی نرم افزار IBA [۱] با مقایسه چندین کد اختصاص داده شده به RBSًُُُ، ERD و NRA، که توسط آژانس بین المللی انرژی اتمی سازماندهی شده است، دنبال شده است. [۲]

IBA یک منطقه پژوهش های فعال است. آخرین کنفرانس بزرگ هسته ای میکروپرتو در دبرسن (مجارستان) در NIMB 267 (12-13) منتشر شد.

بررسی اجمالی

تحلیل پرتو یونی بر این اساس کار می کند که برهمکنش های یون و اتم با معرفی یون ها به نمونه آزمایش شده تولید می شود. فعل و انفعالات اصلی منجر به انتشار محصولاتی می شود که جمع آوری اطلاعاتی مربوط به تعداد، نوع، توزیع و آرایش ساختاری اتم ها را فراهم می کند. برای استفاده از این فعل و انفعالات برای تعیین ترکیب نمونه، باید تکنیکی همراه با شرایط تابش و سیستم تشخیصی انتخاب شود که تابش مورد نظر را به بهترین نحو ایزوله کند تا حساسیت و محدودیت های تشخیص مورد نظر را تامین کند. طرح اولیه یک دستگاه پرتو یونی یک شتاب دهنده است که یک پرتو یونی تولید می کند که از طریق یک لوله انتقال پرتو تخلیه شده به دستگاه انتقال پرتو تغذیه می شود. این دستگاه گونه های یون و بار مورد نظر را جدا می کند که سپس از طریق یک لوله انتقال پرتو تخلیه شده به محفظه هدف منتقل می شود. این محفظه جایی است که پرتو یونی تصفیه شده با نمونه تماس پیدا کرده و بنابراین می توان برهمکنش های حاصل را مشاهده کرد. پیکربندی دستگاه پرتو یونی را می توان تغییر داده و با ترکیب اجزای اضافی پیچیده تر کرد. تکنیک های تحلیل پرتو یونی برای اهداف خاصی طراحی شده اند. برخی از تکنیک ها و منابع یونی در جدول ۱ نشان داده شده است. انواع آشکارساز و آرایش ها برای تکنیک های پرتو یونی در جدول ۲ نشان داده شده است.

جدول ۱: تکنیک ها و منابع یونی
منبع یون جریان پرتوهای یونی تکنیک
کم انرژی فرکانس رادیویی ۱ میلی آمپر H، He، N، O LEIS
دووپلاسماترون ۱۰ میلی آمپر H، He، N، O
کلوترون
پنینگ ۵ میلی آمپر C، N، Ne، Kr
کندوپاش CaeDsium جامد ترین SIMS
فریمن ۱۰ میلی آمپر جامد ترین
اثر الکترون
LMIS Ga, In, Au, Bi
انرژی بالا یون های مثبت
فرکانس رادیویی ۱ میلی آمپر H, He, N, O RBS، PIXE، NRA
دووپلاماترون ۱۰ میلی آمپر H, He, N, O
یون های منفی
دووپلاسماترون

(استخراج خارج از محور)

۱۰۰ میلی آمپر H، O RBS، PIXE، NRA
پنینگ ۲ میلی آمپر H, 2 H
Sputter-source اکثر
RF با تعویض بار ۱۰۰ میلی آمپر H, He, N, O
جدول ۲: انواع آشکارساز و آرایش تکنیک های پرتو یونی
محصول آشکارساز پیکربندی وکیوم
LEIS یون های پراکنده Channeltron خلاء، متحرک باصرفه

اندازه گیری انرژی نیاز دارد

آنالایزر الکترواستاتیک/مغناطیسی

۱۰ نانو پاسکال
SIMS یون های ثانویه Channeltron خلاء، هندسه ثابت

وضوح کم جرم با ESA، QMA

وضوح جرم بالا با آنالایزر میدانی بخش

< ۱ میلی پاسکال
SIPS فوتون های نوری اسپکتروفتومتر خارجی به محفظه، هندسه ثابت، وضوح طول موج بالا. < ۱ میلی پاسکال
PIXE اشعه ایکس Si (Li)

IG

وکیوم یا خارجی. پنجره نازک را فیلتر می کند. خنک کننده N مایع < ۱ میلی پاسکال
RBS یون ها Surf.barrier خلاء، هندسه متحرک

چیدمان کوچک و ساده

RBS-C یون ها Surf.barrier < ۱۰۰ میلی پاسکال
ERA یون ها Surf.barrier نگاهی به هندسه زاویه برای بهبود وضوح عمق
NRA یون‌ها Surf.barrier
PIGME اشعه های گاما Ge (Li)

NaI

خارجی با پنجره، کرایوستات

وضوح بالا، راندمان پایین

وضوح ضعیف، راندمان بالا

< ۱۰۰ میلی پاسکال
NRA نوترون ها BF3

شیشه Li

جرقه زننده

خارجی، راندمان پایین

فقط تشخیص

وضوح گسترده با آشکار شدن

برنامه های کاربردی

تحلیل پرتو یونی در تعدادی از کاربردهای متفاوت، از کاربردهای زیست پزشکی گرفته تا مطالعه مصنوعات باستانی، کاربرد پیدا کرده است. محبوبیت این تکنیک ناشی از داده های حساسی است که می توان بدون تحریف قابل توجهی در سیستمی که روی آن مطالعه می ‌شود جمع آوری کرد. موفقیت بی‌نظیری که در استفاده از آنالیز پرتو یونی به دست آمده، طی سی سال گذشته تا همین اواخر با فناوری‌های در حال توسعه جدید تقریباً بدون چالش بوده است. حتی پس از آن، استفاده از تجزیه و تحلیل پرتو یونی از بین نرفته است و کاربردهای بیشتری پیدا می شود که از قابلیت های تشخیص برتر آن بهره می برند. در عصری که فناوری‌های قدیمی‌تر می‌توانند در یک لحظه منسوخ شوند، تجزیه و تحلیل پرتو یونی به عنوان یک پایه اصلی باقی مانده است و به نظر می‌رسد که در حالی که محققان در پی یافتن استفاده بیشتر از این تکنیک هستند رشد می کند.

تحلیل عنصری زیست پزشکی

نانوذرات طلا اخیراً به‌عنوان مبنایی برای شمارش گونه‌های اتمی، به‌ویژه با مطالعه محتوای سلول‌های سرطانی مورد استفاده قرار گرفته‌اند. [۳] تحلیل پرتو یونی یک راه عالی برای شمارش مقدار گونه‌های اتمی در هر سلول است. دانشمندان با استفاده از تحلیل پرتو یونی، راه موثری برای در دسترس قرار دادن داده های عددی دقیق در ارتباط با طیف سنجی پراکندگی الاستیک (EBS) یافته اند. [۳] محققان یک مطالعه نانوذرات طلا توانستند با استفاده از تجزیه و تحلیل پرتو یونی، موفقیت بیشتری در مقایسه با سایر تکنیک‌های تحلیلی مانند PIXE یا XRF پیدا کنند. [۳] این موفقیت به این علت است که سیگنال EBS می تواند مستقیماً اطلاعات عمق را با استفاده از تحلیل پرتو یونی اندازه گیری کند، در حالی که این کار با دو روش دیگر انجام پذیر نیست. خواص منحصر به فرد تحلیل پرتو یونی، استفاده زیادی در خط جدیدی از درمان سرطان ایجاد می کند.

مطالعات میراث فرهنگی

آنالیز پرتو یونی همچنین کاربرد بسیار منحصر به فردی در استفاده از مطالعه آثار باستان شناسی دارد که به باستان سنجی نیز معروف است. در سه دهه گذشته، این روش برای مطالعه آثار در حالی که محتوای آنها حفظ می شود، بسیار ترجیح داده شده است. آنچه که افراد بسیاری در استفاده از این تکنیک مفید یافته اند، ارائه عملکرد تحلیلی عالی و خصوصیت غیر تهاجمی آن است. به طور ویژه، این تکنیک عملکرد بی نظیری را از نظر حساسیت و دقت ارائه می دهد. با این حال، اخیراً منابع رقابتی وجود داشته اند که برای اهداف باستان‌سنجی از روش‌های مبتنی بر اشعه ایکس مانند XRF استفاده کرده اند. با این وجود، ارجح ترین و دقیق ترین منبع، تحلیل پرتو یونی است که هنوز در تجزیه و تحلیل عناصر سبک و کاربردهای تصویربرداری شیمیایی سه بعدی (یعنی آثار هنری و محصولات باستان شناسی) بی همتا است. [۴][۵]

تجزیه و تحلیل پزشکی قانونی

سومین کاربرد آنالیز پرتو یونی در مطالعات پزشکی قانونی، به ویژه با توصیف باقیمانده گلوله است. توصیف فعلی بر اساس فلزات سنگین موجود در گلوله ها انجام می شود، با این حال، تغییرات در حال تولید به آرامی این تجزیه و تحلیل ها را منسوخ می کند. باور بر این است که معرفی تکنیک‌هایی مانند آنالیز پرتو یونی این مشکل را کاهش می دهد. محققان در حال حاضر در حال مطالعه استفاده از تجزیه و تحلیل پرتو یونی در ارتباط با میکروسکوپ الکترونی و طیف‌سنج پرتو ایکس پراکنده کننده انرژی (SEM-EDS) هستند. [۶] امید این است که این راه‌اندازی ترکیب مواد شیمیایی جدید و قدیمی را که آنالیزهای قدیمی‌تر در گذشته نمی‌توانستند به طور مؤثر تشخیص دهند، شناسایی کند. [۶] مقدار بیشتر سیگنال تحلیلی استفاده شده و حساسیت نوری بیشتر که در تجزیه و تحلیل پرتو یونی یافت می شود، نوید بزرگی به حوزه علم پزشکی قانونی می دهد.

توسعه باتری لیتیومی

تشخیص مکانی عناصر سبک، به عنوان مثال لیتیوم، برای اکثر تکنیک های مبتنی بر پوسته الکترونیکی اتم های هدف مانند XRF یا SEM-EDS چالش برانگیز است. برای باتری‌های لیتیوم و یون لیتیوم، تعیین کمیت استوکیومتری لیتیوم و توزیع فضایی آن برای درک مکانیزم‌های پشت تخلیه/شارژ و پیری مهم است. از طریق تمرکز پرتو یونی و ترکیبی از روش‌ها، تحلیل پرتو یونی امکان منحصر به فردی را برای اندازه‌گیری وضعیت بار محلی (SoC) در مقیاس میکرومتر ارائه می‌دهد. [۷]

IBA تکراری

تکنیک‌های تحلیلی بر مبنای پرتو یونی مجموعه‌ای از ابزارهای قدرتمند را برای تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری غیر مخرب، بدون استاندارد، با تفکیک عمق و بسیار دقیق در عمق ساختار از چند نانومتر تا چند میکرومتر نشان می‌دهند. با تغییر نوع یون فرودی، هندسه آزمایش، انرژی ذرات یا با به دست آوردن محصولات مختلف ناشی از برهمکنش یون و جامد، می توان اطلاعات تکمیلی را استخراج کرد. با این حال، آنالیز اغلب از نظر تفکیک جرم - زمانی که چندین عنصر نسبتاً سنگین در نمونه وجود دارد - یا از نظر حساسیت - زمانی که گونه‌های سبک در ماتریس‌های سنگین حضور دارند، به چالش کشیده می‌شود. بنابراین، معمولاً تنها ترکیبی از چندین تکنیک مبتنی بر پرتو یونی بر محدودیت‌های هر روش غلبه می‌کند و اطلاعات تکمیلی در مورد نمونه ارائه می‌دهند. [۸] [۳]

بررسی اجمالی برهمکنش های مختلف سطح یون. (1)-یون ورودی; (2)-پراکندگی; (3) - خنثی سازی و پراکندگی; (4)- کندوپاش و پس زدن; (5) -گسیل الکترون. (6) -گسیل فوتون. (7)-جذب; (8) - جابجایی، به عنوان مثال از رویداد کندوپاش

ترکیب چندین تکنیک IBA ( RBS ، EBS، PIXE ، ERD )در یک تحلیل تکراری و خودسازگار ثابت می‌کند که دقت اطلاعاتی که می‌توان از هر اندازه‌گیری مستقل به‌دست آورد را افزایش داد. [۹] [۱۰]

نرم افزار و شبیه سازی

قدمت آن به دهه 1960 برمی گردد، داده های جمع آوری شده با استفاده از تحلیل پرتو یونی از طریق بسیاری از برنامه های شبیه سازی کامپیوتری تجزیه و تحلیل شده است. محققانی که غالبا از تحلیل پرتو یونی در ارتباط با کار خود استفاده می کنند، نیاز دارند که این نرم افزار برای توصیف فرآیند تحلیلی که مشاهده می کنند، دقیق و مناسب باشد. [۱۱] کاربردهای این برنامه‌های نرم‌افزاری از تجزیه و تحلیل داده‌ها گرفته تا شبیه‌سازی‌های تئوری و مدل‌سازی بر اساس فرضیات مرتبط با داده‌های اتمی، ریاضیات و خواص فیزیک که جزئیات فرآیند مورد نظر را ارائه می‌کنند، را شامل می‌شود. همانطور که هدف و اجرای آنالیز پرتو یونی در طول سال ها تغییر کرده، نرم افزار و کدهای مورد استفاده برای مدل سازی آن نیز تغییر کرده است. چنین تغییراتی از طریق پنج کلاس که توسط آنها نرم افزارهای به روز شده دسته بندی می شوند، به تفصیل بیان می شود. [۱۲] [۱۳]

کلاس A

شامل تمام برنامه های توسعه یافته در اواخر دهه 1960 و اوایل دهه 1970 است. این کلاس از نرم افزار مشکلات مشخصی را در داده ها حل می کند. niy پتانسیل کاملی را برای تجزیه طیفی از یک مورد کلی کامل فراهم نکرده است. برنامه برجسته پیشگام IBA بود که توسط Ziegler و Baglin در سال 1971 گسترش یافت. در آن زمان، مدل‌های محاسباتی تنها با تحلیل مرتبط با تکنیک‌های پراکندگی آنالیز پرتو یونی مقابله می‌کردند و محاسبه را بر اساس تحلیل دال انجام می‌دادند. برنامه‌های متنوع دیگری مانند RBSFIT در این مدت به وجود آمدند، اگرچه به دلیل کمبود دانش عمیق در مورد تجزیه و تحلیل پرتو یونی، گسترش برنامه‌هایی با دقت به طور فزاینده‌ای سخت شد.

کلاس-B

موج جدیدی از برنامه ها به دنبال حل این مشکل دقت در کلاس بعدی نرم افزار بودند. برنامه هایی مانند SQEAKIE و BEAM EXPERT که در طول دهه 1980 گسترش یافتند، فرصتی برای حل یک مورد کلی کامل با به کارگیری کدهایی برای انجام تحلیل مستقیم، فراهم کردند. این رویکرد مستقیم طیف تولید شده را بدون هیچ فرضی در مورد نمونه آشکار می کند. در عوض از طریق سیگنال های طیف تفکیک شده محاسبه می کند و برای هر لایه مجموعه ای از معادلات خطی را حل می کند. با این حال، مشکلات هنوز به وجود می آیند و اصلاحاتی برای کاهش نویز در اندازه گیری ها و فضای عدم قطعیت انجام می شود.

کلاس-C

در سفر به نقطه اول، این دسته سوم از برنامه ها، که در دهه 1990 تشکیل شد، چند اصل را از کلاس A در حسابداری برای حالت کلی می گیرد، اما اکنون با استفاده از روش های غیر مستقیم. برای مثال، RUMP و SENRAS از یک مدل فرضی از نمونه استفاده می‌کنند و یک طیف تئوریک مقایسه‌ای را شبیه‌سازی می‌کنند، که ویژگی‌هایی مثل نگهداری ساختار خوب و محاسبات عدم قطعیت را ارائه می‌دهد. علاوه بر پیشرفت در ابزارهای آنالیز نرم افزار، توانایی تحلیل تکنیک های دیگر به غیر از پراکندگی نیز وجود داشت. یعنی ERDA و NRA.

کلاس-D

با خروج از دوران کلاس C و در اوایل دهه 2000، نرم افزارها و برنامه های شبیه سازی برای تحلیل پرتو یونی با انواع تکنیک های جمع آوری داده ها و مشکلات تجزیه و تحلیل داده ها مقابله می کردند. به دنبال پیشرفت های تکنولوژیکی جهان، اصلاحاتی برای ارتقای برنامه ها به کدهای عمومی تر، ارزیابی طیف و تعیین ساختاری انجام شد. برنامه های ایجاد شده مانند SIMNRA اکنون تعاملات پیچیده تر با پرتو و نمونه را به حساب می آورند؛ همچنین یک پایگاه داده شناخته شده از داده های پراکندگی را ارائه می دهد.

کلاس-E

این کلاس که اخیراً توسعه یافته، با داشتن ویژگی های مشابه قبلی، از اصول اولیه در تکنیک های محاسباتی مونت کارلو استفاده می کند. [۱۴] این کلاس از محاسبات دینامیک مولکولی استفاده می کند که قادر به تجزیه و تحلیل فعل و انفعالات فیزیکی کم و پر انرژی هستند که در تحلیل پرتو یونی اتفاق می افتد. یکی از ویژگی‌های کلیدی و محبوبی که با چنین تکنیک‌هایی همراه است، امکان ادغام محاسبات در زمان واقعی با آزمایش آنالیز پرتو یونی است.

پانویسها و منابع

  1. ↑ Rauhala et al. (2006)
  2. ↑ Barradas et al. (2007)
  3. ↑ ۳٫۰ ۳٫۱ ۳٫۲ ۳٫۳ Jeynes, J. Charles (September 26, 2013). "Measuring and Modeling Cell-to-Cell Variation in Uptake of Gold Nanoparticles". Analyst. 138 (23): 7070–4. Bibcode:2013Ana...138.7070J. doi:10.1039/c3an01406a. PMID 24102065.
  4. ↑ خطای یادکرد: خطای یادکرد:برچسب <ref>‎ غیرمجاز؛ متنی برای یادکردهای با نام :2 وارد نشده است. (صفحهٔ راهنما را مطالعه کنید.).
  5. ↑ "Applications of Ion Beam Analysis". www.surrey.ac.uk. Retrieved 2016-04-29.
  6. ↑ ۶٫۰ ۶٫۱ Romolo, F.S. (May 2, 2013). "Integrated Ion Beam Analysis (IBA) in Gunshot Residue (GSR) Characterisation". Forensic Science International. 231 (1–3): 219–228. doi:10.1016/j.forsciint.2013.05.006. PMID 23890641.
  7. ↑ Möller, Sören; Satoh, Takahiro; Ishii, Yasuyuki; Teßmer, Britta; Guerdelli, Rayan; Kamiya, Tomihiro; Fujita, Kazuhisa; Suzuki, Kota; Kato, Yoshiaki (June 2021). "Absolute Local Quantification of Li as Function of State-of-Charge in All-Solid-State Li Batteries via 2D MeV Ion-Beam Analysis". Batteries (به انگلیسی). 7 (2): 41. doi:10.3390/batteries7020041.
  8. ↑ خطای یادکرد: خطای یادکرد:برچسب <ref>‎ غیرمجاز؛ متنی برای یادکردهای با نام :0 وارد نشده است. (صفحهٔ راهنما را مطالعه کنید.).
  9. ↑ Moro, M.V.; Holeňák, R.; Zendejas Medina, L.; Jansson, U.; Primetzhofer, D. (September 2019). "Accurate high-resolution depth profiling of magnetron sputtered transition metal alloy films containing light species: A multi-method approach". Thin Solid Films (به انگلیسی). 686: 137416. arXiv:1812.10340. Bibcode:2019TSF...686m7416M. doi:10.1016/j.tsf.2019.137416.
  10. ↑ Jeynes, C.; Bailey, M.J.; Bright, N.J.; Christopher, M.E.; Grime, G.W.; Jones, B.N.; Palitsin, V.V.; Webb, R.P. (January 2012). ""Total IBA" – Where are we?" (PDF). Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms (به انگلیسی). 271: 107–118. Bibcode:2012NIMPB.271..107J. doi:10.1016/j.nimb.2011.09.020.
  11. ↑ Barradas, N.P. (2007). "International Atomic Energy Agency Intercomparison of Ion Beam Analysis Software". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 262 (2): 281. Bibcode:2007NIMPB.262..281B. doi:10.1016/j.nimb.2007.05.018. {{cite journal}}: |hdl-access= requires |hdl= (help)
  12. ↑ Rauhala, E. (2006). "Status of ion beam data analysis and simulation software". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 244 (2): 436. Bibcode:2006NIMPB.244..436R. doi:10.1016/j.nimb.2005.10.024. {{cite journal}}: |hdl-access= requires |hdl= (help)
  13. ↑ "Fullerene Simulations Introduction". www.surrey.ac.uk. Retrieved 2016-04-29.
  14. ↑ Schiettekatte, F (2008). "Fast Monte Carlo for ion beam analysis simulations". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 266 (8): 1880. Bibcode:2008NIMPB.266.1880S. doi:10.1016/j.nimb.2007.11.075.

منابع

لینک های بیرونی

  • کنفرانس بین المللی تجزیه و تحلیل پرتو یونی (کنفرانس علمی دوسالانه اختصاص داده شده به IBA): 2007, 2009, 2011, 2013, 2015, 2017 .
  • کنفرانس اروپایی شتاب دهنده ها در تحقیقات و فناوری کاربردی ECAART (کنفرانس علمی سه ساله اروپا): 2007 ، 2010 ، 2013 ، 2016 .
  • کنفرانس بین المللی انتشار اشعه ایکس ناشی از ذرات (کنفرانس علمی Trienniel اختصاص داده شده به PIXE): 2007 ، 2010 ، 2013 ، 2015 .
  • "ابزار و روش‌های هسته‌ای" : مجله علمی بین‌المللی با بازبینی همتا که عمدتاً به توسعه‌ها و کاربردهای IBA اختصاص دارد.
  • برنامه SIMNRA برای شبیه سازی و تحلیل طیف های RBS، EBS، ERD، NRA و MEIS
  • برنامه MultiSIMNRA برای شبیه سازی و تحلیل (برازش خودسازگار) طیف های RBS، EBS، ERD و NRA متعدد با استفاده از SIMNRA
  • برنامه DataFurnace برای شبیه سازی و تجزیه و تحلیل (برازش خودسازگار) چندین طیف PIXE، RBS، EBS، ERD، NRA، PIGE، NRP، NDP
  • نسخه رایگان NDF NDF (موتور محاسباتی زیربنایی DataFurnace) برای شبیه سازی طیف های IBA
  • برنامه GUPIX برای شبیه سازی و تجزیه و تحلیل طیف PIXE
  • نرم افزار برای تجزیه و تحلیل PIXE مقایسه بسته های نرم افزاری طیف سنجی PIXE
  • Aachen-ion-beams سخت افزار و نرم افزار برای تجزیه و تحلیل پرتو یونی و کاربردهای پرتو μ
برگرفته از «https://fa.wikipedia.org/w/index.php?title=تجزیه_و_تحلیل_پرتو_یونی&oldid=36090514»