کارت کاوند
کارت کاوند یا کارت پروب (به انگلیسی: Probe card) یک رابط بین یک سامانه آزمایش الکترونیکی و یک ویفر نیمرسانا است. معمولاً کارت کاوند به صورت مکانیکی به یک کاونده لنگرانداخته میشود و به صورت الکتریکی به یک آزمایشگر متصل میشود. هدف آن فراهم کردن یک مسیر الکتریکی بین سامانه آزمون و مدارهای روی ویفر است، در نتیجه امکان آزمایش و اعتبارسنجی مدارها در سطح ویفر، معمولاً قبل از بُرش و بستهبندی آنها فراهم میشود. معمولاً از یک برد مدار چاپی (PCB) و نوعی از دِرایههای تماسی، معمولاً فلزی، اما احتمالاً از مواد دیگر نیز تشکیل شدهاست.[۱]
جستارهای وابسته[ویرایش]
منابع[ویرایش]
- ↑ Sayil, Selahattin (2018). Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. Springer International Publishing. pp. 1–3. doi:10.1007/978-3-319-69673-7. ISBN 978-3-319-69672-0.
پیوند به بیرون[ویرایش]
- Additional Slides for Lecture 16 "Testing, Design for Testability", EE271
- System-in-Package (SiP) Testing, Jin-Fu Li, National Central University, Taiwan
- Probe Card Tutorial, Keithley Instruments