پرش به محتوا

پرونده:ZEISS Crossbeam 550- Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation (33411552526).jpg

محتوای صفحه در زبان‌های دیگر پشتیبانی نمی‌شود
از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد

پروندهٔ اصلی ‏(۵٬۷۱۷ × ۴٬۹۴۰ پیکسل، اندازهٔ پرونده: ۱٫۶۵ مگابایت، نوع MIME پرونده: image/jpeg)

این تصویر از ویکی‌انبار است.

خلاصه

توضیح
English: With ZEISS Crossbeam you benefit from a 3D nano-workstation: combine imaging and analytical performance of a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) with the processing ability of a focused ion beam (FIB). For milling, imaging or when performing 3D analytics.
हिन्दी: इस फ़ाइल में अतिरिक्त जानकारी शामिल है जैसे कि Exif मेटाडेटा जो डिजिटल कैमरा, स्कैनर, या सॉफ्टवेयर प्रोग्राम द्वारा इसे बनाने या डिजिटाइज़ करने के लिए उपयोग किया गया हो सकता है। यदि फ़ाइल को उसकी मूल स्थिति से संशोधित किया गया है, तो टाइमस्टैम्प जैसे कुछ विवरण पूरी तरह से मूल फ़ाइल को प्रतिबिंबित नहीं कर सकते हैं। टाइमस्टैम्प केवल कैमरे में घड़ी के रूप में सटीक है, और यह पूरी तरह से गलत हो सकता है।
تاریخ
منبع ZEISS Crossbeam 550: Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation
پدیدآور ZEISS Microscopy from Germany

Images donated as part of a GLAM collaboration with Carl Zeiss Microscopy - please contact Andy Mabbett for details.

اجازه‌نامه

w:fa:کرییتیو کامنز
انتساب
این پرونده با اجازه‌نامهٔ کریتیو کامانز Attribution 2.0 عمومی منتشر شده است.
شما اجازه دارید:
  • برای به اشتراک گذاشتن – برای کپی، توزیع و انتقال اثر
  • تلفیق کردن – برای انطباق اثر
تحت شرایط زیر:
  • انتساب – شما باید اعتبار مربوطه را به دست آورید، پیوندی به مجوز ارائه دهید و نشان دهید که آیا تغییرات ایجاد شده‌اند یا خیر. شما ممکن است این کار را به هر روش منطقی انجام دهید، اما نه به هر شیوه‌ای که پیشنهاد می‌کند که مجوزدهنده از شما یا استفاده‌تان حمایت کند.
این نگاره در ابتدا توسط ZEISS Microscopy در https://flickr.com/photos/75834543@N06/33411552526 به فلیکر ارسال شده‌است و در ‏۱۵ آوریل ۲۰۱۷‏ توسط ربات FlickreviewR بازبینی‌شده و اینکه نگاره تحت مجوز cc-by-2.0 منتشر شده‌است تأیید شد.

‏۱۵ آوریل ۲۰۱۷‏

عنوان

شرحی یک‌خطی از محتوای این فایل اضافه کنید

آیتم‌هایی که در این پرونده نمایش داده شده‌اند

توصیف‌ها

پدیدآورنده

این خصوصیت مقداری دارد اما نامشخص است.

اسم کاربری فلیکر: 75834543@N06
رشته نام نویسنده: ZEISS Microscopy
URL انگلیسی: https://www.flickr.com/people/75834543@N06

تاریخچهٔ پرونده

روی تاریخ/زمان‌ها کلیک کنید تا نسخهٔ مربوط به آن هنگام را ببینید.

تاریخ/زمانبندانگشتیابعادکاربرتوضیح
کنونی‏۱۵ آوریل ۲۰۱۷، ساعت ۲۲:۵۴تصویر بندانگشتی از نسخهٔ مورخ ‏۱۵ آوریل ۲۰۱۷، ساعت ۲۲:۵۴۵٬۷۱۷ در ۴٬۹۴۰ (۱٫۶۵ مگابایت)PigsonthewingTransferred from Flickr via Flickr2Commons

صفحهٔ زیر از این تصویر استفاده می‌کند:

کاربرد سراسری پرونده

ویکی‌های دیگر زیر از این پرونده استفاده می‌کنند:

فراداده

این پرونده حاوی اطلاعات اضافه‌ای‌است که احتمالاً دوربین دیجیتال یا پویشگری که در ایجاد یا دیجیتالی‌کردن آن به کار رفته آن را افزوده است. اگر پرونده از وضعیت ابتدایی‌اش تغییر داده شده باشد آنگاه ممکن است شرح و تفصیلات موجود اطلاعات تصویر را تماماً بازتاب ندهد.

برگرفته از «https://fa.wikipedia.org/wiki/پرونده:ZEISS_Crossbeam_550-_Your_FIB-SEM_for_High_Throughput_3D_Analysis_and_Sample_Preparation_(33411552526).jpg»