پرش به محتوا

پرونده:Probe card.JPG

محتوای صفحه در زبان‌های دیگر پشتیبانی نمی‌شود
از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد

پروندهٔ اصلی (۲٬۴۴۸ × ۳٬۲۶۴ پیکسل، اندازهٔ پرونده: ۲٫۴۹ مگابایت، نوع MIME پرونده: image/jpeg)

خلاصه

توضیح
English: A probe card. Such cards are used in Wafer testing process in devices called Wafer prober. Testing is one of steps of Semiconductor device fabrication.
تاریخ
منبع اثر شخصی
پدیدآور Ajoones

اجازه‌نامه

من، صاحب حقوق قانونی این اثر، به این وسیله این اثر را تحث اجازه‌نامهٔ ذیل منتشر می‌کنم:
w:fa:کرییتیو کامنز
انتساب
این پرونده با اجازه‌نامهٔ کریتیو کامانز Attribution 3.0 بومی نشده منتشر شده است.
شما اجازه دارید:
  • برای به اشتراک گذاشتن – برای کپی، توزیع و انتقال اثر
  • تلفیق کردن – برای انطباق اثر
تحت شرایط زیر:
  • انتساب – شما باید اعتبار مربوطه را به دست آورید، پیوندی به مجوز ارائه دهید و نشان دهید که آیا تغییرات ایجاد شده‌اند یا خیر. شما ممکن است این کار را به هر روش منطقی انجام دهید، اما نه به هر شیوه‌ای که پیشنهاد می‌کند که مجوزدهنده از شما یا استفاده‌تان حمایت کند.

عنوان

شرحی یک‌خطی از محتوای این فایل اضافه کنید

آیتم‌هایی که در این پرونده نمایش داده شده‌اند

توصیف‌ها

این خصوصیت مقداری دارد اما نامشخص است.

captured with انگلیسی

Canon PowerShot S5 IS انگلیسی

source of file انگلیسی

تاریخچهٔ پرونده

روی تاریخ/زمان‌ها کلیک کنید تا نسخهٔ مربوط به آن هنگام را ببینید.

تاریخ/زمانبندانگشتیابعادکاربرتوضیح
کنونی‏۱۲ فوریهٔ ۲۰۱۰، ساعت ۲۳:۲۷تصویر بندانگشتی از نسخهٔ مورخ ‏۱۲ فوریهٔ ۲۰۱۰، ساعت ۲۳:۲۷۲٬۴۴۸ در ۳٬۲۶۴ (۲٫۴۹ مگابایت)Ajoones{{Information |Description={{en|1=A probe card.}} |Source={{own}} |Author=Ajoones |Date=2010-02-12 |Permission= |other_versions= }}

صفحهٔ زیر از این تصویر استفاده می‌کند:

کاربرد سراسری پرونده

ویکی‌های دیگر زیر از این پرونده استفاده می‌کنند:

فراداده