پرش به محتوا

مرحله پیشین خط

از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد
BEOL (لایه متالیزش (به انگلیسی: metalization)) و FEOL (افزارها).
فرایند برساخت سیماس

مرحله پیشین خط (FEOL) اولین بخش از برساخت آی‌سی است که در آن قطعات جداگانه (ترانزیستورها، خازن‌ها، مقاومت‌ها و غیره) در نیم‌رسانا الگو زَده می‌شوند.[۱] FEOL به‌طور کلی تا نِهِشت (به انگلیسی: deposition) لایه‌های میان‌هابند فلزی (اما بدون احتساب آن) همه چیز را پوشش می‌دهد.

برای فرایند سیماس، FEOL تمام مراحل برساخت مورد نیاز برای تشکیل عناصر CMOS کاملاً مجزاشده شامل:

  1. انتخاب نوع ویفر مورد استفاده؛ مسطح‌سازی شیمیایی-مکانیکی و تمیزکردن ویفر.
  2. عایق‌بندی ترانشه کم‌عمق (STI) (یا لوکوس در مراحل اولیه، با اندازه مشخصه > ۰٫۲۵ میکرومتر)
  3. تشکیل چاه
  4. تشکیل ماژول گیت
  5. تشکیل ماژول سورس و درین

جستارهای وابسته[ویرایش]

منابع[ویرایش]

  1. Karen A. Reinhardt and Werner Kern (2008). Handbook of Silicon Wafer Cleaning Technology (2nd ed.). William Andrew. p. 202. ISBN 978-0-8155-1554-8.

خواندن بیشتر[ویرایش]