پرونده:AFMsetup.jpg

Page contents not supported in other languages.
از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد

AFMsetup.jpg ‏(۷۲۱ × ۵۶۹ پیکسل، اندازهٔ پرونده: ۸۶ کیلوبایت، نوع MIME پرونده: image/jpeg)

این تصویر از ویکی‌انبار است.

خلاصه

توضیح
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
تاریخ 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
منبع

http://kristian.molhave.dk

پدیدآور yashvant
اجازه‌نامه
(استفادهٔ مجدد از این پرونده)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg یک نسخهٔ برداری از این پرونده است.
آن پرونده را هنگامی که بهتر بود می‌بایست به جای این نسخهٔ تصویر استفاده کرد.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
برای کسب اطلاعات بیشتر در ارتباط با تصاویر برداری لطفاً اینجا را مطالعه‌کنید.
همچنین اطلاعات بیشتری در ارتباط با حمایت مدیاویکی از تصاویر اس‌وی‌جی وجود دارد.
در زبان های دیگر
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
New SVG image

اجازه‌نامه

w:fa:کرییتیو کامنز
انتساب
این پرونده با اجازه‌نامهٔ کریتیو کامانز Attribution 2.5 عمومی منتشر شده است.
شما اجازه دارید:
  • برای به اشتراک گذاشتن – برای کپی، توزیع و انتقال اثر
  • تلفیق کردن – برای انطباق اثر
تحت شرایط زیر:
  • انتساب – شما باید اعتبار مربوطه را به دست آورید، پیوندی به مجوز ارائه دهید و نشان دهید که آیا تغییرات ایجاد شده‌اند یا خیر. شما ممکن است این کار را به هر روش منطقی انجام دهید، اما نه به هر شیوه‌ای که پیشنهاد می‌کند که مجوزدهنده از شما یا استفاده‌تان حمایت کند.

عنوان

شرحی یک‌خطی از محتوای این فایل اضافه کنید

آیتم‌هایی که در این پرونده نمایش داده شده‌اند

توصیف‌ها

checksum انگلیسی

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

روش ارزیابی: اس‌اچ‌ای-۱

حجم نرم‌افزار

۸۸٬۰۷۱ بایت

بلندی

۵۶۹ پیکسل

عرض

۷۲۱ پیکسل

تاریخچهٔ پرونده

روی تاریخ/زمان‌ها کلیک کنید تا نسخهٔ مربوط به آن هنگام را ببینید.

تاریخ/زمانبندانگشتیابعادکاربرتوضیح
کنونی‏۲۱ نوامبر ۲۰۰۶، ساعت ۱۴:۱۰تصویر بندانگشتی از نسخهٔ مورخ ‏۲۱ نوامبر ۲۰۰۶، ساعت ۱۴:۱۰۷۲۱ در ۵۶۹ (۸۶ کیلوبایت)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

کاربرد سراسری پرونده

ویکی‌های دیگر زیر از این پرونده استفاده می‌کنند:

نمایش استفاده‌های سراسری از این پرونده.

برگرفته از «https://fa.wikipedia.org/wiki/پرونده:AFMsetup.jpg»