میکروسکوپ نیروی مغناطیسی

از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد
پرش به: ناوبری، جستجو
تصویر میکروسکوپ نیروی مغناطیسی از سطح یک هارد دیسک. اندازهٔ تصویر ۱ میکرومتر مربع است.

میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (به انگلیسی: Magnetic force microscope) نوعی میکروسکوپ توسعه یافته از ایدهٔ میکروسکوپ نیروی اتمی است. این میکروسکوپ از تغییرات فضایی نیروی مغناطیسی بین سطح نمونه و نوک کانتی لیور برای تصویرسازی استفاده می‌کند. در حقیقت، اگر از سوزنی با ممان (گشتاور) مغناطیسی استفاده شود، می‌توان از هر میکروسکوپ نیرویی روبشی به عنوان میکروسکوپ نیروی مغناطیسی استفاده نمود. در این صورت، میکروسکوپ نیرویی روبشی نسبت به خطوط میدان مغناطیسی خارج شده (emanating) از نمونه، حساس می‌شود. اما، می‌توان از سوزن‌های دیگری که به خطوط میدان مغناطیسی حساس هستند نیز استفاده کرد. مثال‌های آن عبارتند از: پروب‌های میکروساخت هال ، سنسورهای مگنتورزیستیو (آشکارسازهای مقاومت مغناطیسی) و ابزارهای تداخل کوانتم ابر رسانا (SQUIDS)(ابزارهای تداخل سنجی کوانتمی ابر رسانا- در پزشکی کاربرد دارد)[۱].

جستارهای وابسته[ویرایش]

منابع[ویرایش]

  1. علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی: آزمایشگاهی روی نوک سوزن"، تهران، پیک نور، 1385
  • Y. Martin and H.K. Wickramasinghe, Magnetic imaging by "force microscopy" with 1000-A resolution, Appl. Phys. Lett., 1987, 50(20), 1455-1457.