طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس

از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس Philips PW1606در آزمایشگاه کنترل کیفیت کارخانه سیمان

طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری ست که کاربردگسترده ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با ان روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینه آنالیزی مناسب، پایداری و اپراتوری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (major) و جرئی (trace) نمونه‌های معدنی است.

این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک و مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینه ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری[۱] مانند نقاشی[۲] و نقاشی دیواری استفاده می‌شود. .

جستارهای وابسته[ویرایش]

منابع[ویرایش]

پیوند به بیرون[ویرایش]