طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس

از ویکی‌پدیا، دانشنامهٔ آزاد
پرش به ناوبری پرش به جستجو
طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس Philips PW1606در آزمایشگاه کنترل کیفیت کارخانه سیمان

طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری ست که کاربردگسترده ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با ان روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینه آنالیزی مناسب، پایداری و اپراتوری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (major) و جرئی (trace) نمونه‌های معدنی است.

این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک و مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینه ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری[۱] مانند نقاشی[۲] و نقاشی دیواری استفاده می‌شود. .

جستارهای وابسته[ویرایش]

منابع[ویرایش]

پیوند به بیرون[ویرایش]